首頁 >
檢測中心 >
功率器件 >
材料 >
少子壽命測試
設(shè)備：外延片少子壽命測試儀WT-2000 Wafer Test System
廠商：匈牙利 SEMILAB
用途：1.厚外延少子壽命測試2.SiC電阻率測試
技術(shù)指標(biāo)：少子壽命測試要求外延厚度>30um；規(guī)則樣品寬度>10mm 可以點(diǎn)測或連續(xù)面測
?
昌黎县|
运城市|
营口市|
敖汉旗|
宁德市|
双辽市|
色达县|
紫金县|
桂阳县|
健康|
青阳县|
瑞金市|
乐安县|
光山县|
灵川县|
云南省|
漳州市|
临武县|
曲阜市|
新密市|
青海省|
称多县|
阿城市|
维西|
抚松县|
彰化市|
东明县|
察隅县|
永定县|
贵州省|
资源县|
唐山市|
凤凰县|
东辽县|
南充市|
巴林左旗|
曲阳县|
甘孜县|
吴忠市|
霞浦县|
宜州市|
